DIC微分干涉顯微鏡下的世界

1952年，在相差顯微鏡原理的基礎上發明了微分干涉顯微鏡，微分干涉英文名叫DIC，是相襯顯微鏡的一種。與相差顯微鏡相比，其標本厚度可以略厚一點。微分干涉顯微鏡相較于一般的顯微鏡有四個特殊的光學組件：起偏器、DIC棱鏡、DIC滑行器和檢偏器，并且搭配專門的DIC物鏡進行微分干涉觀察。

DIC的原理為顯微鏡光源通過聚光系統前面的起偏器時光線發生線性偏振，再經過聚光鏡中的DIC棱鏡將一束光分解成偏振方向不同的兩束光（x和y），最初這兩束光相位一致，在穿過標本相鄰區域后，由于標本的厚度和折射率不同，引起了兩束光發生了光程差。在物鏡后焦面處安裝的DIC滑行器把兩束光合并成一束。最后光束穿過檢偏器。

x和y波的光程差決定著透光的多少。光程差為0時沒有光穿過檢偏器，光程差為波長一半時，穿過的光達到最大值。于是在灰色背景上，標本結構呈現出暗亮差。光程差可改變影像的亮度，為了使影像反差達到最大，可通過調節DIC滑行器來改變光程差，使得標本的細微結構呈現出正或負的投影形象，通常是一側亮，而另一側暗，這便造成了標本的人為三維立體感，類似大理石上的浮雕。

DIC微分干涉顯微鏡分為透射DIC和落射DIC兩種，落射DIC通常用于觀察電路板等不透明的金相、工業類樣品，透射DIC通常用于觀察透明的活體細胞或者經過透明化處理的樣品，適用于研究活細胞中較大的細胞器，如果接上錄像裝置可以記錄活細胞中的顆粒以及細胞器的運動。活細胞由于是透明的，不容易被發現，所以需要有些地方相互對比明顯才可觀察。微分干涉顯微鏡可使細胞的結構，特別是一些較大的細胞器，如核、線粒體等，立體感特別強，適合于顯微操作。目前像基因注入、核移植、轉基因等的顯微操作常在這種顯微鏡下進行。

當我們用普通明場顯微鏡觀察屏幕水晶膜樣品損傷部位時，屏幕水晶膜樣品損傷部位輪廓結構看不清晰，且樣品的反差效果不明顯，難以找到屏幕水晶膜的損傷部位，而我們利用明美微分干涉顯微鏡MJ43+MC50-S相機觀察屏幕水晶膜損傷部位時，如圖一、圖二所示，我們可以很清晰的看到屏幕水晶膜的損傷部位的輪廓結構，且其結構邊緣有很好的反差效果，使屏幕水晶膜樣品損傷部位呈現出很好的立體浮雕的感覺，細節非常清晰明了。

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